通過使用特殊的半反射鏡，可以減少背面反射光，無需背面處理即可在短時間內進行精確測量。
（可測量 0.2 mm 薄板的反射率：使用 ×20 物鏡時）

還可以測量鏡片曲面和涂層不均勻度。（在樣品表面連接微小點（φ50μm））

即使是低反射率的樣品也可以在短時間內進行測量，并且具有高重復性。（光學設計捕獲最大量的光，并
通過512元件線性PDA、內置16位A/D轉換器和USB 2.0接口的高速計算實現快速測量。）

可以進行色度測量和L*a*b*測量。可以使用光譜比色法根據光譜反射率來測量物體。

數據可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。

單層薄膜可以非接觸式、非破壞性地測量。

具有在同一屏幕上顯示多個測量結果的功能。輕松比較測量結果。