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如何提高管道生產品質-管道內表面粗糙度測量儀Arasamir一年前，我們推出了管道內表面粗糙度測量儀“Arasamir”。它是*yi個能夠使用Φ0.35mm超細纖維鏡觀察管道內表面的設備。從那時起，我們通過改善測量儀器的性能并將其用...
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無損管內表面粗糙度測量儀技術-無損內表面測量儀“Arasamir”基本原理是在小直徑管中插入比小直徑管的內徑小的管子（內徑為φ0.5mm至φ1.5mm），并獲得內表面圖像的亮度信息。并預先獲得表面粗糙度和亮度，并根據測量數據的相關性計算出表...
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日本高溫観察裝置-日本米倉制作yonekura[通用規格]在所有陣容中都可以觀察加熱情況爐體的封閉結構可在任何大氣中加熱（大氣中加熱，氣流，真空）可以進行高速加熱/冷卻，在1000°C或更低的溫度下（取決于條件），可以以50°C/秒的速度加...
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日本用于半導體行業的高精度非接觸式測厚儀OZUMA22半導體（各種材料）的晶片硅Si.GaAs砷化鎵等，玻璃，金屬，化合物等的高精度非接觸式厚度測量（非接觸式厚度測量）1.1?？梢酝ㄟ^空氣背壓法進行非接觸式厚度測量（非接觸式厚度測量），并且...
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日本用于實驗和研究的紫外線簡易曝光裝置UV-2000MT可與2000W金屬鹵化物燈和汞燈互換，支持多種波長，是實驗和研究的理想選擇。型式UV－2000MTサイズ本體450（W）×450（D）×450（H）㎜電源450（W）×450（D）×2...
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日本san-eielectric三榮新款LED紫外線固化光源的差異性繼傳統的UV光纖光源（使用汞燈）之后，我們提供了使用LED的UV固化系統（固化設備）。與傳統產品相比，主機可以保持較低的價格，并且通過使用LED還可降低運行成本。峰值波長3...
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日本seiwaopt近紅外鹵素燈光源技術SIS-150（-NIR/-AIR）近紅外輻射設備一種在近紅外區域具有峰值的光纖光源設備。通過將其與專yong光學系統和對近紅外區域敏感的相機配合使用，它非常適合無損檢測，例如Si晶圓的內部檢測和背面...
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日本環氧樹脂收縮應力測量技術大量的半導體封裝被安裝在諸如移dong電話和膝上型計算機之類的信息終端設備中使用的半導體產品上。些半導體封裝中，IC芯片用作為熱固性樹脂的環氧樹脂密封，填充在IC芯片和印刷電路板之間并固化，這對于確保電子部件的強...
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什么是停止性能測量設備？日本inoden井上電子IDST-D型停止性能測量設備是一種用于測量并顯示具有突然停止機構的動力壓床突然停止時的最大停止時間以及此時的慣性下降值的設備。特征易于設置，可以快速工作。讀取機器行程并自動設置停止輸出位置。...
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日本電測densoku多點同時測??量渦流膜厚儀技術多點同時測定渦電流式膜厚計本體1臺で多點を同時に測定します。多點同時測定渦電流式膜厚計の特長?多點を同時に測定?測定時間3秒?50～100點の同時測定が可能多點同時測定渦電流式膜厚計製品一...
